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蘇州安原儀器有限公司
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XDLX－RAY光譜測厚儀，是發展趨勢承繼其其前身FISCHERSCOPEX-RAYXDL-B系列產品，其非毀壞式的測量，尤其合適五金的金屬材料鍍層薄厚，測量迅速、精準、高質量.如一些五金零件、線路板及測量電鍍槽中的金正離子的含量
XDL X－RAY光譜測厚儀，是發展趨勢承繼其其前身FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B系列產品，其非毀壞式的測量，尤其合適五金的金屬材料鍍層薄厚，測量迅速、精準、高質量.如一些五金零件、線路板及測量電鍍槽中的金正離子的含量。
菲維爾XDL X－RAY光譜測厚儀，選用了高頻次率的占比信號接收器，能夠在沒有規范片的狀況下，對金屬材料五金件的鍍層薄厚及電鍍液中的正離子含量作出精準的測量，此外在WINFTM BASIC 手機軟件的適用下，可測量多至24原素，它是別的品牌所不可以的。菲維爾XDL X－RAY光譜膜厚儀的長期性可靠性是十分高的，這使儀器設備降低校準所必須的時間及頻次，方便管理儀器設備，并提升 生產率.運用范疇普遍，包含了測量很多的電鍍五金件、查驗塑料薄膜層（如：裝飾藝術鉻的鍍層）、在電子器件及半導體業中剖析其多功能性的鍍層、可用以線路板測量、電鍍槽中的藥液成分剖析,已變成被廣泛運用的全自動測量涂鍍層薄厚的專用儀器。
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