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廣州宇測電子科技有限公司
日本日置C測試儀3504-60
3504-60,LCR測試儀,數字電橋,頻率測試儀,電容測試儀
封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等
高速測量2ms
能根據C 和D (損耗系數*2)的測量值,進行被測物合格與否的判斷
對應測試線,比側儀功能/觸發輸出功能
3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試
3504-40記錄工具,實現高速/低成本的測試
查出全機測量中的接觸錯誤,提高成品率
輸入用探頭/測試夾具,實體不附帶。
按照
日本日置C測試儀3504-60 3504-60,LCR測試儀,數字電橋,頻率測試儀,電容測試儀 封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等 高速測量2ms 能根據C 和D (損耗系數*2)的測量值,進行被測物合格與否的判斷 對應測試線,比側儀功能/觸發輸出功能 3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試 3504-40記錄工具,實現高速/低成本的測試 查出全機測量中的接觸錯誤,提高成品率 輸入用探頭/測試夾具,實體不附帶。 按照測量目的,不同型號有不同的探頭/測試夾具選件 基本參數 測量參數 Cs,Cp(電容),D(損耗系數tanδ) 測量范圍 C:0.9400pF~20.0000mF D:0.00001~1.99000 基本確度 (代表值)C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016 ※測定確度= 基本確度× B× C× D× E, B~Eは各系數 測量頻率 120Hz, 1kHz 測量信號電平 恒定電壓模式: 100mV (*3504-60) 500 mV, 1 V 測量范圍: CV 100mV:~170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ~1.45mF 量程 (測量頻率120Hz) CV 500mV: ~170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ~1.45mF 量程 (測量頻率120Hz) CV 1V: ~70μF 量程 (測量頻率 1kHz), ~700μF 量程 (測量頻率120Hz) 輸出電阻 5Ω(開路端子電壓模式,上述測量范圍以外) 顯示 發光二級管 (6行表示,滿量程計算器根據量程而定) 測量時間 典型值: 2.0 ms (1 kHz, FAST) ※測量時間根據測量頻率、測量速度的不同而不同 機能 4端子控制檢測功能(*3504-60),BIN測量(除去3504-40),觸發同時輸出,儲存測量條件,比較測量值的場強,平均值功能,Low-C抑制功能,鳴叫功能,控制用輸出入(EXT.I/O),RS-232C界面(標準裝備),GP-IB接口(3504-40除外) 電源 AC 100/120/220/240V ±10%(可選擇), 50/60Hz, zui大110VA 體積及重量 260×100×220mm, 3.8kg 附件 電源線×1,預備電源保險絲×1,接地適配器×1 (不能單獨使用,測量時需要選用測試冶具或探頭) |
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