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防偽標簽厚度測試儀,基材測厚儀

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更新時間:2018-01-15 13:45:05瀏覽次數:12533

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產品簡介

防偽標簽厚度測試儀,基材測厚儀適用于塑料薄膜量程范圍內各種材料的精確厚度測量,測厚分辯率高達0.1微米,選用優質傳動元件,確保了試驗結果的穩定性與準確性。了解詳情請致電:濟南蘭光

詳細介紹

1.防偽標簽厚度測試儀,基材測厚儀符合ISO 4593、 ISO 534、 ISO 3034、 GB/T 6672、 GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、 ASTM D1777、 TAPPI T411、 JIS K6250、 JIS K6783、 JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817等測試標準。
 
2.防偽標簽厚度測試儀,基材測厚儀采用機械接觸式測量方式,嚴格符合標準要求,有效保證了測試的規范性和準確性。專業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
 
3.指標
負荷量程:0 ~ 2 mm(常規) 
0 ~ 6 mm;12 mm (可選) 
分辨率:0.1 μm 
測量速度:10 次/min (可調) 
測量壓力:17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(紙張) 
接觸面積:50 mm2(薄膜);200 mm2(紙張) 
注:薄膜、紙張任選一種;非標可定制 
電源:AC 220V 50Hz 
外形尺寸:461mm(L)×334mm(W)×357mm(H) 
凈重:32kg 

了解詳情請致電:濟南蘭光

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